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PUBLICATION

電子部品の加速寿命試験運用ガイドライン

A4判66ページ（2024年2月）
頒価会員4,180円　会員外8,360円
部品安全専門委員会

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概要
電子部品の高信頼性を確認するには、温度や湿度などの加速因子を一定の試験時間、試験サイクルをかけて確認するということが一般的です。ただ、従来から信頼性試験を実施する場合、試験時間や試験サイクル数が規定されている場合でも、必ずしも技術的にその根拠が明確でない場合もあります。
本来、信頼性を予測又は検証するために実施される加速寿命試験は、試験時間や試験サイクル数を設定するために、まず、対象となる故障モードとその故障メカニズムから適正な加速性を予測します。その上で試験条件と想定される使用条件より、算出された加速係数から適正な試験時間を導き出すことが必要です。その結果、試験時間や試験サイクル数が従来のものから大きく短縮することができる場合があります。
日本の電子部品業界は、グローバルなエレクトロニクス産業の基盤のひとつです。加速寿命試験の適正な運用は、信頼性試験に関わる業務プロセスの効率向上であり、敷いてはエレクトロニクス産業の発展を支えるものと考えます。現在、当業界で活躍されている方はもちろん、特に、若い技術者、開発者の方々に当ガイドブックを入門書のひとつとして目を通して頂き、加速寿命試験導入の側面から、今後の電子部品業界発展の一助となれば幸いです。

目　次
1.　序文　
2.　電子部品の信頼性理論　
2.1　信頼性とは　
2.2　信頼性の尺度　
2.3　バスタブ曲線　
2.4　信頼性試験　
2.5　信頼性データの解析　
2.6　加速試験の加速因子及び加速モデル
2.7　加速試験の加速モデル
2.8　加速寿命試験の手順　
2.9　ミッションプロファイル（Mission Profile）
3.　故障モード・メカニズム及び加速モデル　
3.1　MLCCの信頼性試験／加速寿命試験
3.2　アルミ電解コンデンサの信頼性試験／加速寿命試験
3.3　フィルムコンデンサの信頼性試験／加速寿命試験　
3.4　抵抗器の信頼性試験／加速寿命試験　
3.5　インダクタの信頼性試験／加速寿命試験
4.　参考文献