JEITA

0.7μm以上	0.4μm未満 0.3μm以上、0.4μm未満 0.3μm未満	MOS IC計 バイポーラIC計
0.4μm以上、0.7μm未満	MOS 8インチウェハ MOS 8インチウェハ以外	IC計（MOS＋バイポーラ）

IC生産稼動率（%）

	1998年				1999年				2000年
	1Q	2Q	3Q	4Q	1Q	2Q	3Q	4Q	1Q	2Q	3Q	4Q
MOS IC生産稼動率（設計ルール毎）
0.7μm以上	90.6	85.3	80.8	79.1	82.9	88.4	91.5	91.8	93.3	94.0	95.3	95.1
0.4μm以上0.7μm未満	84.5	80.6	72.2	75.0	78.7	84.5	87.7	95.1	95.6	97.0	97.9	93.4
0.4μm未満	94.8	91.4	88.2	90.2
0.3μm以上0.4μm未満					91.1	94.1	91.4	93.7	94.0	95.0	98.4	95.4
0.3μm未満					93.0	93.6	95.5	97.5	97.3	96.2	97.2	95.9
MOS IC生産稼動率（生産能力計）	90.2	86.4	81.6	82.9	85.9	89.9	91.5	94.5	95.2	95.5	97.1	95.1
MOS 8インチウェハ	93.0	88.9	86.9	89.0	92.7	92.1	92.4	95.5	97.4	98.3	98.7	97.4
MOS 8インチウェハ以外	87.9	84.3	76.1	76.2	78.2	87.1	90.5	93.1	91.9	91.2	94.2	91.1
バイポーラIC生産稼動率（生産能力計）	86.1	84.5	76.0	74.1	74.4	83.2	86.1	89.2	89.3	90.7	90.0	89.0
IC生産稼動率（MOS＋バイポーラ生産能力計）	89.6	86.1	80.8	81.7	84.5	89.1	90.9	93.9	94.6	95.0	96.4	94.5

注）SICASには世界の主要半導体メーカのほとんどが加盟しており、統計データはその加盟メーカの実績に基づく。