JEITA

0.7μm以上	0.4μm未満 0.3μm以上、0.4μm未満 0.3μm未満	MOS IC計 バイポーラIC計
0.4μm以上、0.7μm未満	MOS 8インチウェハ MOS 8インチウェハ以外	IC計（MOS＋バイポーラ）

IC生産稼動率（%）

	1997年	1998年				1999年				2000年
	4Q	1Q	2Q	3Q	4Q	1Q	2Q	3Q	4Q	1Q	2Q	3Q
MOS IC生産稼動率（設計ルール毎）
0.7μm以上	91.6	90.6	85.3	80.8	79.1	82.9	88.4	91.5	91.8	93.3	94.0	95.3
0.4μm以上0.7μm未満	92.6	84.5	80.6	72.2	75.0	78.7	84.5	87.7	95.1	95.6	97.0	97.9
0.4μm未満	96.5	94.8	91.4	88.2	90.2
0.3μm以上0.4μm未満						91.1	94.1	91.4	93.7	94.0	95.0	98.4
0.3μm未満						93.0	93.6	95.5	97.5	97.3	96.2	97.2
MOS IC生産稼動率（生産能力計）	93.4	90.2	86.4	81.6	82.9	85.9	89.9	91.5	94.5	95.2	95.5	97.1
MOS 8インチウェハ		93.0	88.9	86.9	89.0	92.7	92.1	92.4	95.5	97.4	98.3	98.7
MOS 8インチウェハ以外		87.9	84.3	76.1	76.2	78.2	87.1	90.5	93.1	91.9	91.2	94.2
バイポーラIC生産稼動率（生産能力計）	87.8	86.1	84.5	76.0	74.1	74.4	83.2	86.1	89.2	89.3	90.7	90.0
IC生産稼動率（MOS＋バイポーラ生産能力計）	92.6	89.6	86.1	80.8	81.7	84.5	89.1	90.9	93.9	94.6	95.0	96.4

※斜体は修正値

注）SICASには世界の主要半導体メーカのほとんどが加盟しており、統計データはその加盟メーカの実績に基づく。