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JEITA規格
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電子デバイス部門
半導体<個別半導体>関係
JEITA規格について 日本語日本語 英語英語 日英併記日英併記 スタビライズド規格スタビライズド規格
購入
番号
名称
制定・改正
年月
頒価
(円)
旧規格
備考
スタビライズド規格
(移行年月)
  ED-4002A 日本語 個別半導体デバイス用語 1993.11
2006.01
 \2,982 ED-4002

  ED-4359 日英併記 マイクロ波半導体デバイスの特性及び測定方法 2005.12  \8,229 CD-ROMのみ
  ED-4511B 日本語 ダイオードの定格・特性及び試験方法 1991.11
2002.03
2013.03
 \5,142 ED-4511
ED-4511A

  ED-4521 日本語 3端子サイリスタの定格・特性及び試験方法 1994.01  \4,937 SD-11
SD-21

  ED-4522 日本語 ターンオフサイリスタの定格・特性及び試験方法 1995.01  \4,937
  ED-4541A 日英併記 パワートランジスタの定格・特性及び試験方法 1989.05
1999.08
 \10,285 ED-4541
スタビライズド
2015.06
  ED-4561A 日英併記 電界効果パワートランジスタの定格・特性及び試験方法 1989.03
1999.08
 \9,874 ED-4561

  ED-4562B 日英併記 絶縁ゲートバイポーラトランジスタの定格・特性及び試験方法 1990.03
2000.05
2016.03
 \15,768 ED-4562
ED-4562A

  ED-4912 日本語 発光ダイオード 2008.03  \7,509
  EDR-4101 日本語 リードレス形シリコンダイオード 2011.06  \4,835 ED-4131
ED-4132
ED-4133
ED-4134

  EDR-4102 日本語 小信号ダイオード,小信号トランジスタ及び個別半導体デバイスの形名 2011.06  \5,040 ED-4001A
ED-4121
ED-4122

  EDR-4901 日本語 LED及びフォトカプラ用語 2015.03  \3,456
 
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